| 電源電壓 | 40-70kv彻磁； |
|---|---|
| 類別 | 便攜式電子元器件檢測(cè)儀 |
| 適用范圍 | 電子產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)測(cè)試 |
| 外形尺寸 | 330×230x220mm |
| 顯示方式 | 數(shù)字成像 |
| 品牌 | XDXIII-U160G型 |
| 型號(hào) | XDXIII-U160G型 |
1：IC半導(dǎo)體內(nèi)結(jié)構(gòu)測(cè)試
2：電容電子內(nèi)結(jié)構(gòu)測(cè)試
3：各類導(dǎo)線接頭內(nèi)結(jié)構(gòu)測(cè)試
4：LED
5：元器件檢測(cè)
6：鋁制品壓鑄件
7：模壓塑料部件
8：電氣和機(jī)械部件
應(yīng)用于: 電子產(chǎn)品许帐、電子元器件尝抖、半導(dǎo)體元器件、BGA蛀家、IC芯片挫肆、CPU、IC芯片.封裝元件笛驴、
電熱絲监征、發(fā)熱盤(pán)、熱敏電阻饵逐、電容括眠、集成電路、電路板倍权、電子連接器等的脫焊掷豺、空焊、連錫薄声、氣泡当船，工件內(nèi)部的圖形結(jié)構(gòu)和缺陷,等測(cè)試。產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)是否有損壞默辨、是電子產(chǎn)品無(wú)損測(cè)試的專用設(shè)備生年。還可用于鑄件裂紋，裂縫廓奕、氣孔等無(wú)損測(cè)試抱婉。
手提式X光機(jī)、無(wú)損測(cè)試 設(shè)備 主要定制項(xiàng)目：
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